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SN74ABT18646PM
| EXSHINE 部品型番: | EX-SN74ABT18646PM |
|---|---|
| メーカー 部品型番: | SN74ABT18646PM |
| メーカー / ブランド: | Texas Instruments |
| 簡単な説明: | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP |
| フリーステータス/ RoHS状態: | 鉛フリー/ RoHS準拠 |
| 仕様条件: | New and unused, Original |
| ドキュメントをダウンロードする: | SN74ABT18646PM |
| アプリケーション: | - |
| 重さ: | - |
| オルタナティブ: | - |
のリアルタイム可用性
SN74ABT18646PM
在庫あり： 44040 PCは1〜2日で出荷できます。
将来の在庫：7-10日で12000個。
メーカーリードタイム：8-10週間
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将来の在庫：7-10日で12000個。
メーカーリードタイム：8-10週間
- 説明
- お支払い方法
- 配送方法
- 製品パッケージ
製品パラメータ
| 供給電圧 | 4.5 V ~ 5.5 V |
|---|---|
| サプライヤデバイスパッケージ | 64-LQFP (10x10) |
| シリーズ | 74ABT |
| パッケージング | Tray |
| パッケージ/ケース | 64-LQFP |
| 他の名前 | 296-3943 SN74ABT18646PMG4 SN74ABT18646PMG4-ND |
| 運転温度 | -40°C ~ 85°C |
| ビット数 | 18 |
| 装着タイプ | Surface Mount |
| 水分感受性レベル（MSL） | 3 (168 Hours) |
| メーカーの標準リードタイム | 6 Weeks |
| 製造元の部品番号 | SN74ABT18646PM |
| 論理タイプ | Scan Test Device With Transceivers And Registers |
| 拡張された説明 | Scan Test Device With Transceivers And Registers IC 64-LQFP (10x10) |
| 説明 | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP |
その他のパラメータ
| 他の名前 | 296-3943 SN74ABT18646PMG4 SN74ABT18646PMG4-ND |
|---|---|
| 標準パッケージ | 160 |
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送金サービス 受信：1〜2時間。 |
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FEDEX EXPRESS 納期：1〜3日。 |
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EMSエクスプレス 納期：7-10日。 |
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